تهیه و مشخصه یابی فیلم های نازک اکسید روی تهیه شده به روش انباشت شیمیایی بخار (cvd)
پایان نامه
- وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه تربیت مدرس - دانشکده علوم پایه
- نویسنده اسلام آقاجانلو
- استاد راهنما رسول ملک فر
- تعداد صفحات: ۱۵ صفحه ی اول
- سال انتشار 1390
چکیده
در این تحقیق، خواص اپتیکی و ساختاری فیلم های نازک اکسید روی مورد مطالعه قرار گرفته است. برای پوشش این فیلمها، از روش انباشت بخار شیمیایی (cvd) و با کمک تکنیک فعال سازی حرارتی استفاده شده است. زینک استات بعنوان پیش ماده بکار رفته است. گاز اکسیژن جهت انجام واکنش و تشکیل اکسید روی و گاز نیتروژن نیز به عنوان گاز حامل استفاده شده اند. آنالیز های مختلفی از جمله طیف رامان (raman)، طیف ftir ، طیف سنجی نوری uv-visible، پراش اشعه ایکس(xrd) و بررسی های میکروسکوپی الکترون روبشی (sem) مورد استفاده قرار گرفته است. خواص ساختاری متفاوت را با دماهای متفاوت زیر لایه توسط آنالیز های xrd و sem مورد بررسی قرار گرفت. نتایج xrd نیز ساختار ورتزایت اکسید روی را با جهت یابی ممتاز (002) نشان می دهد. ابعاد دانه ها کمتر از 100 نانومتر به وسیله رابطه دبای- شرر محاسبه شد. ضرایب اپتیکی از قبیل ضریب شکست(n) و ضریب خاموشی (k) و گاف نواری از روی داده های طیف عبوری uv-visible توسط روش بهینه سازی چامبولیرون محاسبه شد. فیلم های تولیدی، عبوری بین 65% تا 85% را در ناحیه مریی از خود نشان می دادند.
منابع مشابه
ساختار و خواص اپتیکی فیلم های نازک نانوذرات مگهمایت Fe2O3- γ تهیه شده به روش همرسوبی شیمیایی
در این تحقیق ابتدا با استفاده از روش هم رسوبی شیمیایی، نانوذرات مغناطیسی مگهمایت سنتز و سپس با بهره گیری از روش اسپری پایرولیز، نمونه های لایه نشانی شده روی شیشه سفید در دماهای400، 450،500،550 و 600 درجه سلسیوس بازپخت شدند. خواص اپتیکی، ساختاری و مورفولوژی سطح آنها به ترتیب توسط طیف سنجی ماورای بنفش – مرئی (UV-vis) ، طیف مادون قرمز (IR)، آنالیزهای پراش اشعه ایکس (XRD) و میکروسکوپ الکترونی روبش...
متن کاملبررسی خواص اپتیکی فیلم های نازک اکسید منیزیم تهیه شده به روش سل- ژل
فیلم‌های نازک اکسید منیزیم به روش سل- ژل تهیه شدند. اثر دمای بازپخت روی خواص اپتیکی، ساختاری و مورفولوژیکی فیلمها با استفاده از ftir، uv-visible، اسپکتروسکوپی فوتولومینسانس (pl)، پراش پرتو x (xrd) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) بررسی شد. ثابتهای اپتیکی و ضخامت فیلمها با رهیافت کمینهسازی نامقید نقطهگرا تعیین شد. شفافیت اپتیکی فیلمها با افزایش دما کاهش مییابد. با افزایش دما ضریب شکست و ض...
متن کاملمشخصه یابی فیلم نازک (نانوذره) zns تهیه شده به روش تبخیر گرمایی
لایه¬های نازک نیمرسانای سولفید روی (zns) از جمله نیمه هادیهای ترکیبی گروههای ii-vi می¬باشد که به دلیل کاربرد وسیعش دراپتو الکترونیک، مانند دیودهای منتشرکننده نور آبی، قطعات الکترولومینسانس و سلولهای فوتو ولتائیک تحقیقات فراوانی روی آن صورت گرفته است. در این تحقیق لایه¬های نازک سولفید در دو دمای مختلف زیر لایهc º 25 وcº 200 و در ضخامتهای مختلفnm 600-nm 100 بر روی زیرلایه شیشه¬ای به روش تبخیر د...
15 صفحه اولمنابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده{@ msg_add @}
نوع سند: پایان نامه
وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه تربیت مدرس - دانشکده علوم پایه
کلمات کلیدی
میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com
copyright © 2015-2023